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产品名称:美国NetTest系列 OTDR卡
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用于远程光纤测试系统
NetTest为远程光纤测试系统(RFTS)和植入式测试系统应用提供一系列OTDR和OSA卡。
NetTest的植入式OTDR卡基于对高性能光特性测试与测量设备超过15年的开发经验。我们的高分辨率、高动态范围的卡是集成到RFTS系统进行短距离和长距离监测应用的理想之选。
NetTest为RFTS应用提供单模和多模OTDR卡。多个操作波长可被用于备纤或在线光纤的测试。所有的OTDR卡都提供ISA或cPCI接口。所有的卡均为紧凑设计,可以抵御温度的急剧变化及各种艰苦的外场操作环境。
至于完整的RFTS解决方案,NetTest为您提供QUESTfiber远程光纤测试和管理系统。带有智能的远端测试设备(RTUs)的QUESTfiber RFTS,可提供高动态范围的测试模块、可扩展的光开关以及易于集成的 OSS接口,能够帮助用户快速配置远程光纤监测系统、扩大投资回报。
功能与益处
· 可快速集成到RFTS系统中
· 结构紧凑,可集成到传输系统中
· 基于NetTest mini-OTDR的性能
· 高动态范围和极佳的分辨率
· 结构紧凑
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产品说明:
OTDR光时域反射测试模块实现光时域的长距离测试,从而检测光纤的性能品质和光纤中连接点(熔接、冷接、机械连接等)的损耗特性。
产品规格:
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激
光
特
性 |
中心波长 |
1310nm±15nm,1550nm±15nm或1625nm±20nm |
事件盲区 |
≤45m,脉冲宽度(PW)=50ns,回波损耗35dB时 |
衰减盲区 |
≤85m,PW=50ns,回波损耗36dB时 |
动态范围 |
可选:33dB、35dB、37dB、39.5dB、41dB、43dB、45dB
在PW=4μs或5μs、信号噪声比=1时,根据被检测光缆线路中光纤通道的全程传输损耗(dB)和需精确测量时的富余度(dB)来选择。 |
测
量
特
性 |
测距精度 |
0.001*被检测光纤通道的光学长度 |
衰减读出分辨率 |
0.001dB |
线性度 |
≤0.5dB/dB |
离散反射率测量精度 |
≤2.0dB |
群折射率设置范围 |
1.4000~1.6000 |
产
品
规
格 |
光纤连接器 |
FC/PC(可以根据用户的需要,选配SC或APC) |
数据接口 |
ISA、驱动程序和测试开发接口 |
环
境
参
数 |
MTBF |
30年 |
工作温度 |
0℃~+50 |
相对湿度 |
+30℃时不大于90%(无冷凝) |
贮存温度 |
-20℃~+70℃ |
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光学技术指标
光学模块 |
中心波长( nm ) |
动态范围( dB ) |
衰减盲区( m ) |
事件盲区( m ) |
732S |
1310/1550±30 |
30.0/28.0 |
20.0/25.0 |
5.0 |
733S |
1310±30 |
30.0 |
20.0 |
5.0 |
735S |
1550±30 |
28.0 |
25.0 |
5.0 |
736S |
1625±20 |
30.0 |
25.0 |
5.0 |
742S |
1310/1550±20 |
37.0/35.0 |
20.0/25.0 |
5.0 |
743S |
1310±20 |
37.0 |
20.0 |
5.0 |
745S |
1550±20 |
35.0 |
25.0 |
5.0 |
746S |
1625±20 |
35.0 |
25.0 |
5.0 |
747S |
1550/1625±20 |
33.5/34.0 |
25.0 |
5.0 |
752S |
1310/1550±20 |
39.0/40.0 |
25.0 |
5.0 |
753S |
1310±20 |
39.0 |
25.0 |
5.0 |
755S |
1550±20 |
40.0 |
25.0 |
5.0 |
756C |
1625±20 |
39.0 |
25.0 |
5.0 |
756S |
1625±20 |
37.0 |
25.0 |
5.0 |
757S |
1550/1625±20 |
40.0/37.0 |
25.0 |
5.0 |
765C |
1550±20 |
43.0 |
25.0 |
5.0 |
766C |
1625±20 |
41.0 |
25.0 |
5.0 |
782M |
850/1300±20 |
27.0/27.0 |
12.0 |
3.5 |
788M |
850±20 |
27.0 |
12.0 |
3.5 |
783M |
1300±20 |
27.0 |
12.0 |
3.5 |
参数如有变化,恕不另行通知。 |